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UV-340型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
性能特点
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示，带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口（USB,冗余供电）
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持
8、轻触按键操作，蜂鸣提示
技术参数
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项目 |
参数 |
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波长范围λ1，峰值波长λp |
（315～370）nm，λP＝340nm |
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辐照度测量范围 |
(0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外带外区杂光 |
UV254<0.1%，UV297<0.05% |
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零值误差（满量程FS） |
<满量程的±1.0% |
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长波响应误差 |
<15% |
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余弦特性（方向性响应）误差 |
<10% |
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非线性误差 |
<±1.5% |
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换档误差 |
±1% |
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疲劳误差 |
<3.0% |
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相对示值误差 |
<±8.0％（相对于NIM标准） |
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响应时间 |
<1秒 |
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使用环境 |
温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
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尺寸和重量 |
160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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电源 |
6F22型9V积层电池（非充电电池） |
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整机功耗 |
＜0.1VA |
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配置 |
主机、340探头、探头盖、数据线、说明书、合格证、9V电池等 |
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